SELECT COUNT(*) FROM 급여 WHERE EMPNO > 100 AND SAL >= 3000 OR EMPNO = 200;
EMPNO | SAL |
---|---|
100 | 1000 |
200 | 3000 |
300 | 1500 |
1. ( 괄호 ) 테스트는 하드웨어나 소프트웨어의 개발 단계에서 상용화하기 전에 실시하는 제품 검사 작업. 제품의 결함 여부, 제품으로서의 가치 등을 평가하기 위해 실시한다. 선발된 잠재 고객으로 하여금 일정 기간 무료로 사용하게 한 후에 나타난 여러 가지 오류를 수정, 보완한다. 공식적인 제품으로 발매하기 이전에 최종적으로 실시하는 검사 작업이다. 2. ( 괄호 ) 테스트는 새로운 제품 개발 과정에서 이루어지는 첫 번째 테스트. 즉, 시제품이 운영되는 동안의 신제품 연구와 개발 과정 단계에서 초기 작동의 결과를 평가하는 수단이며 개발 회사 내부에서 이루어지는 테스트로서 단위 테스트, 구성 테스트, 시스템 테스트 등을 포함한다.
abstact class Vehicle { String name; abstract public String getName(String val); public String getName() { return "Vehicle name: " + name; } } class Car extends Vehicle { public Car(String val) { name=super.name=val; } public String getName(String val) { return "Car name:" + val; } public String getName(byte val[]) { return "Car name:" + val; } } public class Main { public static void main(String[] args) { Vehicle obj = new Car("Spark"); System.out.println(obj.getName()); } }
1. 0 ≤ x ≤ 10이면 -1, 0, 10, 11 검사 2. 입력 데이터의 영역을 유사한 도메인별로 유효값과 무효값을 그룹핑하여 나누어서 검사
자바 프로그래밍 언어를 이용한 xUnit의 테스트 기법으로써 숨겨진 단위 테스트를 끌어내어 정형화시켜 단위 테스트를 쉽게 해주는 테스트용 프레임워크이다.
( A ) 테이블명 ( B ) 컬럼 = 값 WHERE 점수 >= 90;
int n; int k; int s; int el = 0; for(n=6; n<=30; n++){ s=0; k=n/2; for(int j=1; j<=k; j++){ if(n%j==0){ s=s+j; } } if(s==n){ el++; } } printf("%d", el);
- ( ) 란 임의의 크기를 가진 데이터(Key)를 고정된 크기의 데이터(Value)로 변화시켜 저장하는 것이다. - 키에 대한 ( ) 값을 사용하여 값을 저장하고 키-값 쌍의 갯수에 따라 동적으로 크기가 증가한다. - ( ) 값 자체를 index로 사용하기 때문에 평군 시간복잡도가 O(1) 로 매우 빠르다 - ( ) 함수는 임의의 길이의 데이터를 고정된 길이의 데이터로 매핑하는 함수이다. - ( ) 함수는 큰 파일에서 중복되는 레코드를 찾을 수 있기 때문에 데이터베이스 검색이나 테이블 검색의 속도를 가속할 수 있다.
#include int main() { int input = 101110; int di = 1; int sum = 0; while (1) { if (input == 0) break; else { sum = sum + (input (a)(b)) * di; di = di * 2; input = input / 10; } } printf("%d", sum); return 0; }
개체 데이터 모델에서는 ( A ) 을/를 이용하여 실제 데이터를 처리하는 작업에 대한 명세를 나타내는데 논리 데이터 모델에서는 ( B ) 을/를 어떻게 나타낼 것인지 표현한다. ( C ) 은/는 데이터 무결성 유지를 위한 데이터베이스의 보편적 방법으로 릴레이션의 특정 칼럼에 설정하는 제약을 의미하며, 개체무결성과 참조 무결성 등이 있다.
테스트 하네스의 도구 구성 요소 중, 상향식 테스트시, 상위 모듈 역할을 대신하는 테스트 드라이버와 하향식 테스트 시, 하위 모듈 역할을 대신하는 테스트 ( ) 이 있다.
#include main( ) { int c = 1; switch (3) { case 1: c += 3; case 2: c++; case 3: c = 0; case 4: c += 3; case 5: c -= 10; default: c--; } printf("%d", c); }
#include int len(char*p); int main(){ char*p1 = "2022"; char*p2 = "202207"; int a = p1; int b = p2; printf("%d", len(a) + len(b)); } int len(char*p){ int r = 0; while(*p != ' '){ p++; r++; } return r; }