1. 셀레늄(Selenium) 등의 반도체 뒤에 금속판을 대고 균일한 전하를 준 후 시험체를 투과한 방사선에 노출되면 방사선의 강도에 따라 반도체의 저항이 작아지고 전하가 이동하여 방전하게 되는데, 여기에 반대 전하를 도포하면 육안으로 확인 가능한 영상이 형성되며 이에 적절한 수지를 도포함으로써 영상을 형성할 수 있다. 이 원리를 이용하는 방법을 무엇이라고 하는가?
- 1건식 방사선 투과검사법(Xero radiography)
- 2전자 투과검사법(Electron radiography)
- 3자동 방사선 투과검사법(Auto radiography)
- 4순간 방사선 투과검사법(Flash radiography)
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